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Microanalyse X par sonde électronique : méthodes de Monte-Carlo et modèles de correction

Microanalyse X par sonde électronique : méthodes de Monte-Carlo et modèles de correction

Auteur(s) : Michel Fialin, Jean-Louis Pouchou, Jean-François Bresse

Editeur : Association Nationale de la Recherche Technique

 

47,00 €
Vendeur : Amazon
Parution :
ISBN : 978-2-9001-9530-7
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