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DIAGNOSTIC DE DEFAILLANCES DE SYSTEMES OPTOELECTRONIQUES: Caractérisations électro-optiques et simulations thermomécaniques

DIAGNOSTIC DE DEFAILLANCES DE SYSTEMES OPTOELECTRONIQUES: Caractérisations électro-optiques et simulations thermomécaniques

Auteur : Yannick Deshayes

Editeur : Editions universitaires europeennes

 

77,89 €
Vendeur : Amazon
Parution :
280 pages
ISBN : 978-6-1315-0052-7
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