Microanalyse X par sonde électronique : méthodes de Monte-Carlo et modèles de correction
Auteur(s) : Michel Fialin, Jean-Louis Pouchou, Jean-François Bresse
Editeur : Association Nationale de la Recherche Technique
Parution : Septembre 2003
ISBN : 978-2-9001-9530-7
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47,00 €