Statistique industrielle : Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP
Facebook Twitter Pinterest Linkedin
Donnez votre avis

Statistique industrielle : Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP

Auteur(s) : Francois Bergeret, Sabine Mercier
Editeur : Dunod ›
Parution : Janvier 2021
Format: Ebook - Kindle
240 pages
Fiche consultée 17 fois
30,99 €
Télécharger ce livre